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未来已来,高精度检测怎么少得了高精度数显高度计

文章出处:batway必威登录 人气:-发表时间:2019-12-11 16:04:00

未来已来,高精度检测怎么少得了高精度数显高度计

20世纪60年代为了适应核能、大规模集成电路、激光和航天等尖端技术的需要而发展起来精度极高的加工技术。当前,精密加工已成为衡量一个国家或者企业制造业水平高低的重要指标之一。

例如:飞行器的陀螺马达,轴承零部件公差要控制到0.1μm甚至0.01μm。

3C电子产品中的苹果手机,手机壳的尺寸公差要求不超过20μm,小配件公差则是2μm。

新莽时期我国发明了游标卡尺,比十七世纪的欧洲发明早了1600年。后来出现的千分尺和千分表,精度能够达到0.001mm(1μm),人类对尺寸的度量已经很精细。但是这类量具测量效率低、误差大、可以测量的工件尺寸有限。

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随着现代加工的发展,对于精度要求越来越高,如何做好品控,提高产品合格率,提升效率成为头等问题。而这个问题的第一步则是如何确保测量的准确和精度。东野仪器代理的Mikrometry数显高度计采用了高精度传感器和精密导轨,精度稳定、手感顺畅,快速测量时不跳数;显示器采用绿色高亮度数码管,显示清晰,色彩柔和,长时间使用操作者不易疲劳。台架采用陶瓷作为测量基准台,精密耐用。

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